Ein Trumpf beim Testen – Wie elektrische und optische Funktionen auf Chips effizient parallel geprüft werden können

So wie das Licht die Welt im Großen lenkt, so kann es auch die Welt im Kleinen steuern. Chips mit photonischen Funktionen markieren den nächsten Schritt in der Halbleiterindustrie. Sie braucht es, um die wachsenden Datenmengen, die in Form von Licht in Glasfaserkabeln durch die Netzwerke strömen, zu verarbeiten.

Der Bedarf an den leistungsfähigen Schaltkreisen steigt rasant, weshalb die Hersteller zunehmend auf photonische Technologien setzen. Die Produktion der neuartigen Bauteile erfordert auch eine dafür ausgelegte Qualitätssicherung. Diese sollte für hohe Durchsatzraten geeignet sein sowie zuverlässig und schnell Aussagen über die Funktionstüchtigkeit jedes einzelnen Chips erlauben. Jenoptik bietet dafür die erste kommerziell nutzbare Lösung mit ihrer UFO Probe® Card. Diese testet nicht nur die Funktion von klassischen elektrischen, sondern auch optischen Bauelementen auf Chips.

Bei diesen Chips handelt es sich um photonisch-integrierte Schaltkreise, sogenannte PICs, die auf Wafern per Lithografie-Verfahren hergestellt werden. Als Kernkomponenten von Transceivern übersetzen sie dort elektrische in optische Signale und umgekehrt. Genutzt werden optische Transceiver vor allem in Rechenzentren und Serverfarmen, wo der Datenaustausch besonders intensiv expandiert. Damit wächst auch die Bedeutung des Lichts, denn es hat den Vorteil, dass es im Vergleich zur Elektrizität größere Datenmengen schneller, effizienter und störungsfrei transportieren kann.